‘
EMC测试设备
EMC测试设备
  • C测试仪 3506-10

    C测试仪 3506-10
    模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 根据BIN的测定区分容量
  • C测试仪 3504-40/50/60

    C测试仪 3504-40/50/60
    高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
上一页1下一页 转至第
联系电话:86-0755-83797590    传真:0755-83662502    邮箱:chensu@rituotech.com    地址:深圳市福田区金田路与福华路交汇处现代国际大厦2605B
2021版权所有@深圳市日拓科技有限公司　粤ICP备2021039521号-1